涂層測(cè)厚儀MikroTest S3/S5/S10
上海雙旭涂層測(cè)厚儀MikroTest S3/S5/S10系列
產(chǎn)品概述
MikroTest S系列是采用電磁感應(yīng)原理的便攜式涂層測(cè)厚儀，適用于精確測(cè)量非磁性基體（如鋁、銅、鋅、不銹鋼等）上的非導(dǎo)電涂層厚度（如油漆、塑料、搪瓷等）。
產(chǎn)品參數(shù)
- 型號(hào)與量程：
- MikroTest S3: 0 ~ 300 μm
- MikroTest S5: 0 ~ 500 μm
- MikroTest S10: 0 ~ 1000 μm
- 測(cè)量原理：電磁感應(yīng)法
- 精度：±(1~3%讀數(shù)+1μm)，具體取決于量程與校準(zhǔn)條件
- 分辨率：1 μm
- 最小曲率：凸面5mm，凹面25mm（取決于探頭）
- 最小測(cè)量面積：直徑10mm
- 基體最小厚度：S3/S5: 0.5mm；S10: 1mm
- 探頭類型：固定式一體探頭
- 顯示：模擬指針式表盤
- 電源：1節(jié)9V電池
- 操作溫度：0°C ~ 40°C
- 尺寸與重量：約165 x 85 x 45 mm，約300g（含電池）
使用注意事項(xiàng)
- 校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和曲率的無(wú)涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并建議使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行量程校準(zhǔn)。
- 基體影響：僅適用于非磁性金屬基體�；w厚度必須超過(guò)“最小基體厚度”要求，否則測(cè)量結(jié)果會(huì)受基體背面形狀影響。
- 表面清潔：測(cè)量前需確保被測(cè)表面清潔，無(wú)灰塵、油污、銹跡及其他附著物。
- 邊緣效應(yīng)：測(cè)量點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離邊緣、孔洞和內(nèi)角，通常需保持距離大于探頭直徑（約10mm）。
- 曲率影響：在強(qiáng)彎曲表面測(cè)量時(shí)，需使用相應(yīng)曲率的基體進(jìn)行校準(zhǔn)，否則會(huì)產(chǎn)生誤差。
- 探頭保護(hù)：探頭寶石觸針為易損件，應(yīng)避免劇烈撞擊或劃擦硬物。測(cè)量時(shí)需保持探頭垂直并輕壓于被測(cè)表面。
- 溫度穩(wěn)定性：避免在溫度劇烈變化的環(huán)境中使用，儀器和標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)在測(cè)量環(huán)境溫度下穩(wěn)定一段時(shí)間。
- 電磁干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)（如大型變壓器、電機(jī)），以免干擾測(cè)量精度。
- 電池檢查：電池電壓過(guò)低會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定，應(yīng)及時(shí)更換9V堿性電池。
- 定期驗(yàn)證：長(zhǎng)期使用時(shí)，應(yīng)定期使用標(biāo)準(zhǔn)片驗(yàn)證儀器精度，必要時(shí)重新校準(zhǔn)。
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