涂層測厚儀MikroTest S20
上海雙旭涂層測厚儀 MikroTest S20
產(chǎn)品參數(shù)
測量原理：磁性感應(yīng)/渦流原理（雙功能探頭，自動識別基體）
測量范圍：0~2000μm（視探頭和基材而定）
分辨率：0.1μm / 1μm（根據(jù)量程自動切換）
精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
最小曲率半徑：凸面：1.5mm，凹面：6mm（取決于探頭）
最小測量面積：直徑6mm
基體最小厚度：0.2mm（Fe），0.05mm（NFe）
顯示：LCD液晶顯示屏
單位：μm / mil（可切換）
校準：零點校準和多點校準
數(shù)據(jù)存儲：通常具備基本數(shù)據(jù)存儲和統(tǒng)計功能（如平均值、最大值、最小值等）
電源：2節(jié)AA電池
工作溫度：0℃ ~ 40℃
尺寸與重量：主機緊湊輕便，具體尺寸重量需參考官方數(shù)據(jù)表。
使用注意事項
校準：測量前必須在與待測工件相同材質(zhì)和表面狀態(tài)的基體上進行校準，使用隨儀器提供的標準片。
基體影響：基體材料的電磁特性、厚度、曲率及表面粗糙度會顯著影響測量精度，需確保符合儀器要求的最小基體厚度和曲率。
表面清潔：測量前必須徹底清潔待測表面，去除油污、灰塵、氧化皮等雜質(zhì)。
探頭放置：測量時探頭需垂直于被測表面，并保持穩(wěn)定、壓力均勻，避免傾斜或晃動。
邊緣效應(yīng)：測量點應(yīng)遠離邊緣、孔洞或劇烈彎曲處，一般需保持距離邊緣至少5mm以上。
溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和被測物應(yīng)處于熱平衡狀態(tài)。
干擾：強電磁場環(huán)境可能干擾儀器正常工作，應(yīng)避開此類區(qū)域。
維護：保持探頭清潔，避免撞擊、刮擦。長期不用時應(yīng)取出電池。
應(yīng)用限制：不適用于導磁或?qū)щ娦詷O差的特殊涂層（如陶瓷類非導電涂層），且不能用于多層復合涂層的分層測量。 |
