覆層測(cè)厚儀TT260
上海雙旭覆層測(cè)厚儀TT260
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性法（Fe）/渦流法（NFe）
測(cè)量范圍：0~1250μm（具體取決于探頭）
分辨率：0.1μm / 1μm
測(cè)量精度：±（1~3%H+1μm）
探頭類型：一體式或分體式可選
基體最小曲率：凸5mm / 凹25mm（取決于探頭）
基體最小面積：10mm x 10mm
最小測(cè)量厚度：0.15mm
顯示：LCD液晶顯示屏
電源：2節(jié)AA（5號(hào)）電池
操作溫度：0℃ ~ 40℃
存儲(chǔ)溫度：-20℃ ~ 70℃
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和表面狀態(tài)的基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并采用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。
基體影響：基體的磁性、導(dǎo)電性、厚度、曲率及表面粗糙度會(huì)顯著影響測(cè)量結(jié)果，需進(jìn)行補(bǔ)償或評(píng)估。
探頭選擇：根據(jù)基體材質(zhì)（鐵磁性或非鐵磁性）選擇對(duì)應(yīng)探頭（Fe或NFe），并確保探頭與工件表面垂直穩(wěn)定接觸。
測(cè)量壓力：保持探頭以恒定、適當(dāng)?shù)膲毫佑|被測(cè)表面，壓力過(guò)大會(huì)導(dǎo)致探頭磨損或測(cè)量值偏低。
邊緣效應(yīng)：測(cè)量點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離邊緣、孔洞或劇烈彎曲處，一般需保持距離大于探頭直徑的3倍。
溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)工件處于相同溫度條件下。
干擾源：遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或強(qiáng)烈震動(dòng)的環(huán)境，以免影響測(cè)量準(zhǔn)確性。
維護(hù)：保持探頭清潔，避免磨損、撞擊或接觸腐蝕性物質(zhì)。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。 |
