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| 產(chǎn)品詳細(xì) |
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| 產(chǎn)品名稱： |
電腦膜層測(cè)厚儀MCH-2001J |
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| 產(chǎn)品報(bào)價(jià)： |
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產(chǎn)品詳細(xì)：
電腦膜層測(cè)厚儀MCH-2001J
上海雙旭電腦膜層測(cè)厚儀MCH-2001J
產(chǎn)品參數(shù)
- 測(cè)量原理：磁性感應(yīng)/渦流感應(yīng)（通常為雙功能一體機(jī)）
- 測(cè)量范圍：0~2000μm（具體視探頭和基材而定）
- 分辨率：0.1μm / 1μm（自動(dòng)切換）
- 測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
- 探頭類型：一體式或分體式磁性/渦流探頭
- 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備分組存儲(chǔ)功能，存儲(chǔ)容量數(shù)百至數(shù)千組
- 顯示：LCD液晶顯示屏，數(shù)字直讀
- 電源：AA電池或可充電電池
- 接口：可能配備RS232或USB數(shù)據(jù)輸出接口
- 工作溫度：0~40℃
- 主機(jī)尺寸：約160mm×82mm×30mm（僅供參考）
使用注意事項(xiàng)
- 校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)的無涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行量程校準(zhǔn)。
- 基材影響：磁性法僅適用于磁性基體上的非磁性涂層；渦流法適用于非磁性金屬基體上的絕緣涂層。需根據(jù)基材正確選擇測(cè)量模式。
- 表面清潔：測(cè)量前需確保被測(cè)表面清潔，無油污、灰塵、銹跡及雜質(zhì)，以免影響測(cè)量精度。
- 曲率與厚度：基材的曲率、厚度及形狀會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。對(duì)于小曲面、薄基材或邊緣測(cè)量，需特別謹(jǐn)慎，必要時(shí)使用專用探頭或輔助夾具。
- 測(cè)量壓力與探頭取向：測(cè)量時(shí)保持探頭垂直、平穩(wěn)接觸被測(cè)表面，避免晃動(dòng)或傾斜。施加壓力需恒定，過大壓力可能導(dǎo)致探頭磨損或讀數(shù)失真。
- 溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和試件應(yīng)處于相同穩(wěn)定溫度下，防止熱脹冷縮引入誤差。
- 電磁干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)環(huán)境（如大型電機(jī)、變壓器），以防干擾儀器信號(hào)。
- 維護(hù)：定期清潔探頭測(cè)量面，避免磕碰、摔落。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。
- 標(biāo)準(zhǔn)片：標(biāo)準(zhǔn)片為精密基準(zhǔn)，需妥善保管，防止劃傷、腐蝕和彎曲。
產(chǎn)品概述
MCH-2001J是一款智能化的便攜式涂層測(cè)厚儀，采用微處理器技術(shù)，集磁性法和渦流法于一體，適用于多種基材上的涂層厚度快速無損檢測(cè)。儀器操作簡(jiǎn)便，數(shù)據(jù)穩(wěn)定，具備統(tǒng)計(jì)、存儲(chǔ)和輸出功能，廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、電鍍、噴涂、質(zhì)檢等領(lǐng)域。
典型應(yīng)用
- 鋼鐵等磁性金屬基體上的油漆、塑料、搪瓷、鋅、鉻等非磁性涂層。
- 銅、鋁、不銹鋼等非磁性金屬基體上的陽極氧化層、油漆、陶瓷等絕緣涂層。
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