上海雙旭涂層測厚儀LEEB222產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性感應/渦流原理（自動識別基材）
- 測量范圍：0~1250μm（具體取決于探頭配置）
- 分辨率：0.1μm / 1μm（自動轉換）
- 測量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
- 最小曲率：凸5mm / 凹3mm
- 最小測量面積：直徑10mm
- 最薄基體：0.3mm（磁性）/ 0.05mm（非磁性）
- 校準方式：零點校準、兩點校準、多點校準
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能，容量因具體型號而異
- 顯示：背光LCD數(shù)字顯示
- 電源：2節(jié)AA電池
- 工作溫度：0℃ ~ 40℃
- 主機尺寸/重量：約102mm×66mm×24mm / 約110g（不含探頭）
產(chǎn)品概述
LEEB222是上海雙旭電子有限公司生產(chǎn)的一款便攜式涂層測厚儀，采用磁感應和渦流原理，可自動識別鐵基（Fe）與非鐵基（NFe）基材，適用于測量涂鍍層厚度。該儀器設計緊湊，操作簡便，廣泛應用于制造業(yè)、質檢、電鍍、化工等領域。
使用注意事項
- 基體影響：測量結果受基體金屬材質、厚度、曲率及表面粗糙度影響，需在類似基體上進行校準。
- 表面清潔：測量前必須清除待測表面的灰塵、油污及附著物，確保探頭與涂層表面緊密接觸。
- 測量壓力：探頭應以恒定、垂直的壓力接觸被測表面，避免傾斜或滑動，以免劃傷探頭或影響精度。
- 邊緣效應：避免在靠近邊緣、轉角或狹窄區(qū)域測量，建議距離邊緣至少5mm。
- 溫度穩(wěn)定性：儀器與試件應在相同溫度下穩(wěn)定一段時間后進行測量，避免溫度劇烈變化導致誤差。
- 校準：使用前必須使用隨附標準片進行校準，并定期驗證校準狀態(tài)。測量不同基體或涂層類型時需重新校準。
- 探頭保護：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，測量粗糙表面時建議使用保護帽。
- 電池管理：長期不使用應取出電池，防止電池漏液損壞儀器。低電量提示時應及時更換電池。
- 磁場干擾：測量時需遠離強磁場環(huán)境（如大型電機、變壓器），以免干擾磁性測量原理的準確性。
