涂層測(cè)厚儀leeb242
上海雙旭涂層測(cè)厚儀LEEB242產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理:磁性感應(yīng)/渦流感應(yīng)(自動(dòng)識(shí)別基體)
測(cè)量范圍:0~2000μm(取決于探頭與校準(zhǔn)片)
分辨率:0.1μm(0~99.9μm),1μm(100μm以上)
測(cè)量精度:±(1~3%讀數(shù)+1μm)
基體要求:磁性模式適用于鋼鐵基體上的非磁性涂層;渦流模式適用于非鐵金屬(如銅、鋁)基體上的絕緣涂層
最小曲率:凸面5mm,凹面25mm
最小測(cè)量面積:直徑10mm
最小基體厚度:磁性模式0.5mm,渦流模式0.3mm
校準(zhǔn)方式:零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ):通�?纱鎯�(chǔ)數(shù)百組測(cè)量數(shù)據(jù)
電源:AA電池或可充電電池
顯示:LCD液晶顯示屏
工作溫度:0℃~40℃
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)要求:使用前必須使用隨儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn),測(cè)量不同基體或涂層類(lèi)型需重新校準(zhǔn)。
表面清潔:測(cè)量前需確保被測(cè)表面清潔,無(wú)油污、灰塵、銹蝕及附著物,以免影響測(cè)量精度。
測(cè)量壓力:探頭需垂直、平穩(wěn)地輕壓于被測(cè)表面,避免傾斜或施加過(guò)大壓力導(dǎo)致探頭磨損或讀數(shù)不準(zhǔn)。
基體影響:基體厚度、曲率、表面粗糙度及電磁特性(如剩磁)可能影響測(cè)量結(jié)果,需根據(jù)實(shí)際情況評(píng)估。
環(huán)境干擾:避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或劇烈溫度波動(dòng)的環(huán)境中使用,防止電子干擾。
探頭保護(hù):避免探頭接觸腐蝕性物質(zhì)或受到劇烈撞擊,使用后清潔探頭并妥善存放。
電池管理:長(zhǎng)期不使用時(shí)應(yīng)取出電池,防止電池漏液損壞儀器。
適用范圍:僅適用于設(shè)計(jì)范圍內(nèi)的涂層厚度測(cè)量,不適用于多層涂層或特殊復(fù)合材料(如導(dǎo)電涂層)的精確測(cè)量。 |