涂層測(cè)厚儀leeb242
上海雙旭涂層測(cè)厚儀LEEB242產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性感應(yīng)/渦流感應(yīng)（自動(dòng)識(shí)別基體）
測(cè)量范圍：0~2000μm（取決于探頭與校準(zhǔn)片）
分辨率：0.1μm（0~99.9μm），1μm（100μm以上）
測(cè)量精度：±(1~3%讀數(shù)+1μm)
基體要求：磁性模式適用于鋼鐵基體上的非磁性涂層；渦流模式適用于非鐵金屬（如銅、鋁）基體上的絕緣涂層
最小曲率：凸面5mm，凹面25mm
最小測(cè)量面積：直徑10mm
最小基體厚度：磁性模式0.5mm，渦流模式0.3mm
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通�？纱鎯�(chǔ)數(shù)百組測(cè)量數(shù)據(jù)
電源：AA電池或可充電電池
顯示：LCD液晶顯示屏
工作溫度：0℃~40℃
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)要求：使用前必須使用隨儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)，測(cè)量不同基體或涂層類(lèi)型需重新校準(zhǔn)。
表面清潔：測(cè)量前需確保被測(cè)表面清潔，無(wú)油污、灰塵、銹蝕及附著物，以免影響測(cè)量精度。
測(cè)量壓力：探頭需垂直、平穩(wěn)地輕壓于被測(cè)表面，避免傾斜或施加過(guò)大壓力導(dǎo)致探頭磨損或讀數(shù)不準(zhǔn)。
基體影響：基體厚度、曲率、表面粗糙度及電磁特性（如剩磁）可能影響測(cè)量結(jié)果，需根據(jù)實(shí)際情況評(píng)估。
環(huán)境干擾：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或劇烈溫度波動(dòng)的環(huán)境中使用，防止電子干擾。
探頭保護(hù)：避免探頭接觸腐蝕性物質(zhì)或受到劇烈撞擊，使用后清潔探頭并妥善存放。
電池管理：長(zhǎng)期不使用時(shí)應(yīng)取出電池，防止電池漏液損壞儀器。
適用范圍：僅適用于設(shè)計(jì)范圍內(nèi)的涂層厚度測(cè)量，不適用于多層涂層或特殊復(fù)合材料（如導(dǎo)電涂層）的精確測(cè)量。 |
