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| 產(chǎn)品詳細 |
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| 產(chǎn)品名稱： |
涂層測厚儀XCT200 |
| 產(chǎn)品型號： |
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| 產(chǎn)品報價： |
0 |
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產(chǎn)品詳細：
涂層測厚儀XCT200
上海雙旭涂層測厚儀XCT200
產(chǎn)品概述
XCT200是一款磁性/渦流兩用涂層測厚儀，適用于精確測量鐵基及非鐵基體上的涂層、鍍層厚度。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性感應（鐵基）/渦流感應（非鐵基）
- 測量范圍：0~2000μm（具體分段依探頭配置）
- 分辨率：0.1μm（0~100μm）/1μm（>100μm）
- 測量精度：±（1~3%讀數(shù)+零點）
- 最小曲率：凸5mm/凹25mm
- 最小測量面積：直徑10mm
- 最薄基底厚度：鐵基0.2mm/非鐵基0.05mm
- 校準方式：零點校準、多點校準
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能（具體容量需核實）
- 電源：AA電池
- 顯示：LCD數(shù)字顯示
- 工作溫度：0℃~40℃
使用注意事項
- 基體選擇：測量前必須正確選擇鐵基（Fe）或非鐵基（NFe）模式，匹配探頭類型。
- 校準要求：使用前必須在與待測工件相同材質(zhì)、相同表面粗糙度的無涂層基體上進行零點校準，必要時使用標準片進行多點校準。
- 表面處理：確保被測表面清潔、平整，無油污、灰塵及強磁性物質(zhì)。
- 測量壓力：探頭應垂直、平穩(wěn)地接觸被測表面，避免施加過大側(cè)向力或沖擊。
- 環(huán)境影響：避免在強磁場、強電場或極端溫度、濕度環(huán)境下使用。
- 基底影響：基底厚度、曲率、表面粗糙度及材質(zhì)均會影響測量精度，需滿足儀器規(guī)定的最小要求。
- 探頭保護：避免探頭磨損、撞擊，定期用標準片驗證儀器準確性。
- 電池管理：電量不足時應及時更換電池，防止數(shù)據(jù)丟失或測量誤差。
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